2511 Naturalny siarczan baru [baryt]; naturalny węglan baru [witeryt], nawet kalcynowany (z wył. tlenku baru)
Podrzędne kody CN
Kod CN: 2511 10 00 - Naturalny siarczan baru [baryt]
Kod CN: 2511 20 00 - Naturalny węglan baru [witeryt], nawet kalcynowany (z wył. tlenku baru)
Nie znaleziono dopsowania dla kodów PKWiU i CN.
Sprawdź inne kody CN
Kod CN: 0404 10 82 - Serwatka i serwatka zmodyfikowana, nawet zagęszczona, zawierająca dodatek cukru lub innego środka słodzącego, o zawartości białka [zawartość azotu × 6,38] > 15% masy, i o zawartości tłuszczu > 1,5%, ale <= 27% masy (z wył. w proszku, granulkach lub w innej stałej postaci)
Kod CN: 9108 90 00 - Mechanizmy zegarkowe, kompletne i zmontowane, wyłącznie z naciągiem ręcznym
Kod CN: 5206 34 00 - Nitka wieloskładowa (złożona) lub kablowana, z włókien nieczesanych, zawierająca głównie, ale < 85% masy bawełny i o masie liniowej nitki pojedynczej >= 125 decyteksa, ale < 192,31 decyteksa "o numerze metrycznym > 52, ale <= 80, dla nitki pojedynczej" (z wył. nici do szycia i pakowanej do sprzedaży detalicznej)
Kod CN: 5205 46 00 - Nitka wieloskładowa (złożona) lub kablowana, z włókien czesanych, zawierająca >= 85% masy bawełny i o masie liniowej nitki pojedynczej >= 106,38 decyteksa, ale < 125 decyteksa "o numerze metrycznym > 80, ale <= 94, dla nitki pojedynczej" (z wył. nici do szycia i pakowanej do sprzedaży detalicznej)
Kod CN: 2202 99 91 - Napoje bezalkoholowe zawierające < 0,2% tłuszczów pochodzących z mleka lub mlecznych produktów
Kod CN: 1902 20 - Makarony nadziewane mięsem lub innymi substancjami, nawet poddane obróbce cieplnej lub inaczej przygotowane
Kod CN: 8301 40 19 - Zamki, w rodzaju stosowanych do drzwi budynków, z metalu nieszlachetnego (z wył. bębenkowych i kłódek)
Kod CN: 2303 10 - Pozostałości z produkcji skrobi i podobne pozostałości
Kod CN: 8456 90 00 - Obrabiarki do obróbki dowolnych materiałów przez usuwanie nadmiaru materiału metodą elektrochemiczną lub za pomocą wiązki elektronów, wiązki jonowej (z wył. urządzeń do lutowania i spawania, maszyn do testowania materiałów i maszyn do produkcji urządzeń półprzewodnikowych lub elektronicznych układów scalonych)
